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| 书 名： |
物联网系统动态性能半物理验证技术 |
| 作 者： |
俞晓磊, 汪东华, 赵志敏[著] |
| 出版社： |
科学出版社 |
| 出版日期： |
2018 |
| ISBN： |
9787030586667 |
| 分类号： |
TN911.23 |
| 尺寸： |
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| 定 价： |
129元 |
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| 详细说明： |
本书基于新颖的数学方法(Fisher矩阵、人工神经网络、热力学分析、支持向量机、图像处理算法等),将半物理仿真技术与物联网应用系统相结合,针对典型物联网系统(RFID系统、车联网系统、二维条码识别系统等)动态测试半物理验证若干关键技术的理论与应用进行了深入研究,对解决RFID及物联网工程技术发展的瓶颈问题具有重要的科学意义和广泛的应用前景。
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